產(chǎn)品型號：CSK-ⅢA
產(chǎn)品類別：超聲波試塊
所屬標(biāo)準(zhǔn)：JB 4730-2005
材 質(zhì)：20#鋼、不銹鋼、鋁合金或P91

CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭，
CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。
CSK-IB（CSK-IA）試塊及翻轉(zhuǎn)架
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
CSK-IIIA試塊，探傷試塊使用要點(diǎn)：
① 利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度；
② 利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角；
③ 利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況；
④ 利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；
⑤ 利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；
⑥ 利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度；
⑦ 利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

CSK-IIIA試塊，探傷試塊